Medidas Invariantes para Generalizações de Viana Maps com Conjunto Crítico de Ordem Superior
Vanderlei Horita (UNESP)

TApresentaremos skew-products com um único ponto crítico de grau maior que 2 sobre uma aplicação fortemente expansora do círculo, e mostraremos que esses sistemas admitem dois expoentes de Lya- punov positivos. Isso estende um resultado análogo de M. Viana, que considerou o caso quadrático em seu artigo seminal (Inst. Hautes Études Sci. Publ. Math. 85:63–96, 1997). Para esses sistemas, pro- vamos a existência e unicidade de medidas invariantes absolutamente contínuas. Como consequência da nossa abordagem, obtemos decaimento de correlação superpolinomial.